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尼得科精密检测科技株式会社将亮相2025年12月17日(周三)～12月19日(周五)于东京国际会展中心举办的“SEMICON Japan 2025”（2025日本东京半导体展览会）。
在本届展览会上，尼得科精密检测科技将以“One Stop Solution（一站式解决方案）”为主题，展出面向AI服务器、功率半导体的前沿解决方案。展示内容包括：专为面板级封装和基板产品优化的、融入了AI技术的AVI、2D/3D光学检测设备，以及适用于IGBT/WBG器件等领域的晶圆（KGD）/模块的电特性测试设备。同时还将根据市场趋势提供前沿的检测技术方案（例如：可满足含热管理在内的新型检测需求的探针卡等）。
〈参展概要〉
